我们可以做一个充分安全的假设:
条件是所有的二极管均出自同一个制造批号。△QRR由半导体制造商所给出。除了续流二极管关断时出现的存储电量之外,在电容中存储的电量也同样需要由正在开通的IGBT来接替。根据上述设计公式,我们发现总的存储电量值可能会达到单个二极管的存储电量的两倍。
一般来说,续流二极管的串联电流并不多见,原因是存在下列附件的损耗源:
pn结的n重扩散电压;
并联电阻中的损耗;
需要由IGBT接替的附加存储电量;
由RC电路而导致的元件的增加。
所以在高截止电压的二极管可以被采用时,一般不采用串联方案。
唯一的例外是,当应用电路要求很短的开关时间和很低的存储电量时,这两点正好是低耐压二极管所具备的。当然此时系统的通态损耗也会大大增加。
极管并联
二极管并联,并不需要附加的RC缓冲电路。重要的是在并联时通态电压的偏差应尽可能小。
判断一个二极管是否适合并联的重要参数是其通态电压对温度的依赖性。如果通态电压随温度的增加而下降,则它具有负的温度系数。对于损耗来说,这是一个优点。
如果通态电压随温度的增加而增加,则温度系数为正。
在典型的并联应用中,这是一个优点,其原因在于,较热的二极管将承受较低电流,从而导致系统的稳定。因为二极管总是存在一定的制造偏差,所以在二极管并联时,一个较大的负温度系数(>2mV/K)则有可能产生温升失衡的危险。
并联的二极管会产生热耦合:
在多个芯片并联的模块中通过基片;
在多个模块并联于一块散热片时通过散热器。
一般对于较弱的负温度系数来说,这类热偶合足以避免具有最低通态电压的二极管走向温度失衡。但对于负温度系数值>2mM/K的二极管,则建议降额使用,即总的额定电流应当小于各二极管额定电流的总和。